日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)是日立公司2011年推出的高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。

日立SU9000采取了改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。
日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)的特点：
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。
2. Hitachi设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。
3.新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有稳定和高亮度特点。
4.新物镜设计提高了低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)的技术参数：